Microscop de scanare cu electroni JEOL JCM-6000 NeoScope

Calitate & Control

de Top Metrology

Microscop de scanare cu electroni JEOL JCM-6000 NeoScope

Compania TOP Metrology prezintă JEOL NeoScope JCM- 6000Plus, un microscop de scanare cu electroni (SEM) capabil să răspundă la nevoile diversificate ale utilizatorilor.

Pe lângă SEM-urile convenționale care ocupă un spațiu mult prea mare, microscopul JCM-6000Plus este de tip benchtop cu dimensiunile 330mm(W) x 490mm(D) x 430mm(H).

Datorită acestor dimensiuni reduse, este considerat unul dintre cele mai compacte SEM-uri disponibile pe piață.

Microscopul dispune de un controler cu multi- touch screen, ușor de folosit și intuitiv, ce realizează funcții automate precum: auto focus, auto stigmator, auto contrast/brightness. Controlerul oferă posibilitatea de a afișa două imagini (una live și una de referință), având ca scop compararea rezultatelor.

Seria de microscoape SEM continuă să dispună de funcționalități avansate precum: un nivel ridicat al vidului și detectorul de electroni secundari. Acest lucru oferă posibilitatea de a observa, în mod clar, structuri fine de pe suprafața probei la o apropiere mare.

Echipamentul este disponibil în două variante constructive: o variantă fără EDS (Energy dispersive spectrometer) și o variantă cu EDS. Acest modul realizează analiza chimică a suprafeței scanate.

Echipamentul JEOL JCM-6000 Plus poate fi utilizat pentru o gamă largă de aplicații, după cum urmează:

  • Industria medicală
  • Industria automobilelor
  • Industria aerospațială
  • Industria metalografică
  • Industria electronică

 


Accept cookie

Acest site web utilizează module cookie în scopuri funcţionale, de confort şi statistică.

Dacă sunteţi de acord cu această utilizare a modulelor cookie, faceţi clic pe "Da, sunt de acord". Termeni si conditii

Nu sunt de acord Accept doar cookie functional Da, sunt de acord